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多功能系列颗粒粒度显微镜检测仪推出

上海蒲柘光电仪器有限公司开发的颗粒粒度分析显微镜PZ-UV-G系列,也可称之为粒度显微镜、粒度分析显微镜、粒度检测仪、粒度测定仪是一款多功能颗粒粒度分析显微镜检测仪,凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析:例如粉体粉末及微颗粒分析,漆表面污染分析,油料中污染物含量分析,牛奶中乳酸菌含量、农业种子形态分析,医学组织细胞形态学各种微小异性几何尺寸测量,化学工业中各种反应物粒子的形态分析等,都可以利用PZ-UV-G来完成。其原理是将摄像头与显微镜连接,,显微镜下的颗粒显微图像通过摄像头采集下来在电脑显示器显示,然后通过粒度分析软件进行分析,颗粒的粒径、等效粒径等二十多种多种测量参数的颗粒大小分布、百分含量通过表格法、图形法保存、及输出。软件可以分析出具有表示粒度特性的几个关键指标Dn10,Dn50,Dn90和Ds10,Ds50,Ds90数据,并可用户定制添加符合国标各类粒径测定分析项目。

1、固体颗粒粉末测量分析,包括不同颜色颗粒成分的含量分析

2、膏状物中颗粒测量分析,包括不同颜色颗粒成分的含量分析

3、液体中微小物测量分析,包括不同颜色颗粒成分的含量分析

1、分析方法按照GB/T 15445.2-2006/ISO 9276-2:2001«粒度分析结果的表述»国家标准规定.覆盖国标中规定采用显微分析法进行颗粒测定(如:GBZ/T 192.3—2007工作场所空气中粉尘测定第 3 部分:粉尘分散度等)同时我们也可以为用户定制符合国标各类粒径测定分析 。

2、系统可以在图像上显示时间、比例尺。粒径分布、百分含量可通过表格法、图形法保存、及输出

3、软件可以对所摄颗粒图像进行分析,并给出有效物编号,周长,等积圆直径,圆度,等周长圆直

径,孔洞面积,不含洞面积,最小矩形区,矩形度,长轴长度,长轴方向角,垂长轴长度,长轴

长宽比,短轴长度,短轴方向角,垂短轴长度,短轴长宽比,最大长宽比,区域宽度,区域高度,

区域宽高比,平均直径,圆面积率,半周长,视场面积,内容物数目,内容物面积,内容物面积百

分比,内容物数密度,有效物数目,有效物面积,有效物面积,有效物面积百分比,有效物数密度等

20几种参数数据。数据可以输出导入EXCEL表格,对摄像的颗粒进行编号,编号跟表格里的颗粒序

列号一一对应,并生成粒径个数统计表,粒径面积统计表,粒径分布表,粒径累计分布表。

4、软件可以分析出具有表示粒度特性的几个关键指标Dn10,Dn50,Dn90和Ds10,Ds50,Ds90数据。

5、软件可以对所摄图像进行长度,角度,周长,面积,点到直线,直线与直线,直线到圆弧等几何参

数测量。

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